近紅外高光譜相機獲得光譜主要應(yīng)用兩種技術(shù)透射光譜技術(shù)和反射光譜技術(shù)：

　　透射光譜(波長一般在780~1100nm范圍內(nèi))是指將待測樣品置于光源與檢測器之間，檢測器所檢測的光是透射光或與樣品分子相互作用后的光(承載了樣品結(jié)構(gòu)與組成信息)，若樣品是混濁的，樣品中有能對光產(chǎn)生散射的顆粒物質(zhì)，光在樣品中經(jīng)過的路程是不確定的，透射光強度與樣品濃度之間的關(guān)系不符合Beer定律。對這種樣品應(yīng)使用漫透射分析法。

　　反射光譜(波長一般在1100~2526nm范圍內(nèi))是指將檢測器和光源置于樣品的同一側(cè)，檢測器所檢測的是樣品以各種方式反射回來的光。物體對光的反射又分為規(guī)則反射(鏡面反射)與漫反射。規(guī)則反射指光在物體表面按入射角等于反射角的反射定律發(fā)生的反射，漫反射是光投射到物體后(常是粉末或其它顆粒物體)，在物體表面或內(nèi)部發(fā)生方向不確定的反射。應(yīng)用漫反射光進行的分析稱為漫反射光譜法。此外，還有把透射分析和漫反射分析結(jié)合在一起的綜合漫反射分析法和衰減全反射分析法等。

　　近紅外高光譜相機從光譜中提取有用信息屬于弱信息和多元信息，需要充分利用現(xiàn)有的光機技術(shù)、電子技術(shù)和計算機技術(shù)進行處理。計算機技術(shù)主要包括光譜數(shù)據(jù)處理和數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)技術(shù)。光譜數(shù)據(jù)處理是消除儀器因素(燈及測量方式等)環(huán)境因素(如溫度等)和樣品物態(tài)(如顏色、形態(tài)等)等對光譜的影響。常采用的方法有平滑、微分、基線漂移扣減、多元散射校正和有限脈沖響應(yīng)濾波等也可以用小波變換來進行部分處理。數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)技術(shù)主要是化學計量學方法?；瘜W計量學的發(fā)展使多組分分析中多元信息處理理論和技術(shù)日益成熟，解決了近紅外光譜區(qū)重疊的問通過關(guān)聯(lián)技術(shù)可以實現(xiàn)近紅外光譜的快速分析。

　　近紅外高光譜相機的應(yīng)用中，我們所關(guān)心的是被測樣品的組成或各種物化性質(zhì)，因此，如何提取這些有用信息是近紅外光譜分析的技術(shù)核心?，F(xiàn)在的許多研究與應(yīng)用表明，利用化學計量學方法進行近紅外光譜分析是非常有效的?；瘜W計量學理論在近紅外高光譜相機器中的應(yīng)用對儀器的實用化是非常關(guān)鍵的。

　　近紅外高光譜相機分析中被測物質(zhì)的近紅外光譜取決于樣品的組成和結(jié)構(gòu)。樣品的組成和結(jié)構(gòu)和近紅外光譜之間有著一定的函數(shù)關(guān)系。使用化學計量學方法確定出這些重要函數(shù)關(guān)系，即經(jīng)過校正，就可以根據(jù)被測樣品的近紅外光譜，快速計算出各種數(shù)據(jù)?，F(xiàn)在常用的校正方法主要有：多元線性回歸、主成分分析、偏Z小二乘法、人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和拓撲方法等。